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产品名称：CMX系列超小型多层厚度（基体和涂层）测厚仪 ◎ 多种测量方式：
模式一：仅测量基体厚度
模式二：仅测量涂层厚度
模式三：同时测量基体和涂层的厚度
◎ 多种显示模式
1. 数字式显示
2. B扫描显示
3. A扫描显示（仅CMX DL ）
◎ 增益可调节：超低、低、中、高、超高
◎ 增益值较高可到110dB
◎ 自动增益控制（AGC）
◎ 时间增益校正（TCG）
◎ 探头自动识别，自动调零和温度补偿
◎ 数据存贮：可存储21000个测量厚度值或者16000个测量厚度值和B扫描图形及参数
◎ 可存储64个用户参数设置
◎ 高速扫查（50次/秒）
◎ 高达140HZ的脉冲重复频率
◎ B扫描显示用于显示被测材料的截面形状
◎ A扫描波形显示和RF显示（CMX DL ）
◎ 差值测量模式
◎ 高速扫查功能可用于快速找到壁厚的小值
◎ 上/下限声光报警功能
◎ 较大值、小值显示
◎ 可通过软件与计算机进行数据交换，方便用户打印检测报告
